X射线荧光分析的原理及应用

 X射线荧【yíng】光分析(XRF)——是【shì】对任【rèn】何【hé】种类的【de】样品进行元素分析的好【hǎo】分析技术，无论必需分析【xī】的【de】样品【pǐn】是【shì】液体【tǐ】、固体还【hái】是粉末。XRF可以将高的【de】准确度和精密度与简单和快速的样品准备结合，对铍 (Be) 到铀 (U) 的元【yuán】素喜【xǐ】迁分析，浓度【dù】范【fàn】围从 100 % 到【dào】低至亚 ppm 级。
 

　　作为一种确定各种【zhǒng】材料化学【xué】组【zǔ】成的一种分析方法，XRF的【de】被测材料【liào】可以是固体、液体、粉末或其它形【xíng】式【shì】。XRF还【hái】可【kě】测定镀层和【hé】薄膜的【de】厚度及成【chéng】分。XRF具有分析速【sù】度快、准【zhǔn】确度高、不破坏样品及样品前处理简单等特点【diǎn】。应用范围【wéi】广泛，涉【shè】及金属、水【shuǐ】泥【ní】、油品、聚合物、塑料、食品以及矿物、地质和【hé】环【huán】境等领域，在医药【yào】研究方面，XRF也是一种【zhǒng】非【fēi】常有用的分析方【fāng】法。
 

　　X荧光光谱【pǔ】仪【yí】可分为能量【liàng】色【sè】散(EDXRF)和波长色散(WDXRF)两大类，随【suí】后将详细介绍。可分【fèn】析的元素及检测【cè】限【xiàn】主要【yào】取决于所用的光谱仪系统。EDXRF分析的元【yuán】素从【cóng】Na到U； WDXRF分析的【de】元素从Be到U。浓【nóng】度范围从ppm到100%。通常重元素的检【jiǎn】测限优于轻元素。